Barty, A., C. Caleman, A. Aquila, N. Timneanu, L. Lomb, T.A. White, J. Andreasson, D. Arnlund, S. Bajt, T.R.M. Barends, M. Barthelmess, M.J. Bogan, C. Bostedt, J.D. Bozek, R. Coffee, N. Coppola, J. Davidsson, D.P. DePonte, R.B. Doak, T. Ekeberg, V. Elser, S.W. Epp, B. Erk, H. Fleckenstein, L. Foucar, P. Fromme, H. Graafsma, L. Gumprecht, J. Hajdu, C.Y. Hampton, R. Hartmann, A. Hartmann, G. Hauser, H. Hirsemann, P. Holl, M.S. Hunter, L. Johansson, S. Kassemeyer, N. Kimmel, R.A. Kirian, M. Liang, F.R.N.C. Maia, E. Malmerberg, S. Marchesini, A.V. Martin, K. Nass, R. Neutze, C. Reich, D. Rolles, B. Rudek, A. Rudenko, H. Scott, I. Schlichting, J. Schulz, M.M. Seibert, R.L. Shoeman, R.G. Sierra, H. Soltau, J.C.H. Spence, F. Stellato, S. Stern, L. Struder, J. Ullrich, WangX, G. Weidenspointner, U. Weierstall, C.B. Wunderer, and H.N. Chapman, (2012) Self-terminating diffraction gates femtosecond X-ray nanocrystallography measurements. Nature Photonics, 6(1): 35-40.